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一、ICT測試原理

      首先我們要預先建立好測試數據庫，在測試時由PC發送出信號通過I/O卡送至開關卡與測量卡。開關卡接通量測體測量卡發送出測試信號至量測體此信號經開關卡反饋回測量卡。測量卡運算出結果后通過I/O卡送至PC，PC再判斷出零件的好壞，最后由CRT顯示出來結果來。

二、ICT測試的隔離技術

   因電路板上的元器件都是串并聯在一起的，直接測試會因周邊零件的影響而造成測試數值不準確，故在ICT里面有一種非常重要的技術，它就是隔離技術，通過隔離來去掉其他零件的影響。

三、ICT的頻率測試法

     在電阻并聯電容或電感時，根據Xc=1/(2pfc)  及XL=2pfc-公式，電容或電感對不同的頻率其阻抗擊亦不同之原理，通過提高或降低頻率來分別測試出電陰與電容或電感之數值。

四、ICT的相位分離測試技術

    在電阻并聯電容或電感時，根據電容、電感與純電阻對交流信號的相位不同之原理來分別測試出電阻與電容或電感之數值。

五、ICT的三、四端測試法

      根據元件的特性，加入驅動電流讓其動作來測試其好壞的一種方式。例如：三極管、光電耦合器、繼電器。